A mérési adatok kiértékelésének alapjai | 9 |
A mérési hibák okai | 10 |
A hibakorlátok változási törvényei | 11 |
Hibakorláttal nem rendelkező mérési adatok vizsgálata | 17 |
Görbeillesztési, paraméterbecslés mérési adatokból | 21 |
A legkisebb négyzetek módszere egy paraméter esetén | 22 |
A legkisebb négyzetek módszere egy paraméter esetén | 24 |
Egyenesillesztés a legkisebb négyzetek módszerével | 24 |
Lineárkombináció együtthatóinak meghatározása a legkisebb négyzetek módszerével | 26 |
Töltött részecskék mozgása elektromos és mágneses terekben | 29 |
Mozgás homogén elektromos térben | 30 |
Az elektromos tér munkája | 31 |
Mozgás homogén mágneses térben | 32 |
A mágneses nyalábolás | 36 |
Mozgás nagy sebességek esetén, relativisztikus hatások | 36 |
Töltött részecskék mozgásán alapuló berendezések | 39 |
Az elektromos eltérítésű képcső | 39 |
A mágneses eltérítésű képcső | 43 |
Az elektronmikroszkóp | 44 |
A tömegspektrométer | 48 |
A ciklotron | 49 |
Statisztikák, zajjelenségek | 52 |
Maxwell-Boltzmann statisztika | 52 |
Fermi-Dirac statisztika | 53 |
Elektromos zajok | 55 |
Termikus zaj (ellenállás zaj) | 55 |
Sörétzaj (Schottky zaj) | 56 |
Szilárd testek sávelmélete | 57 |
A sávok keletkezésének szemléletes magyarázata | 57 |
Elektronok kilépése fémekből | 59 |
Termikus emisszió és téremisszió | 59 |
Külső elektromos terek hatása | 60 |
Kontakpotenciál | 61 |
Másodlagos elektromisszió | 61 |
Félvezetők | 64 |
Tiszta félvezetők | 64 |
Adalékolt félvezetők | 64 |
Az n-típusú és p-típusú félvezetők | 64 |
Félvezetők adalékolása | 66 |
Félvezető anyagok előállítása | 67 |
Félvezető anyagok tisztítása | 67 |
Egykristályok előállítása | 68 |
Töltéshordozók félvezetőkben | 68 |
Töltéshordozók egyensúlya | 68 |
Elektronsűrűség a vezetési sávban | 69 |
Lyuksűrűség a vegyértéksávban | 70 |
Elektronsűrűség a donor és akceptor szinten | 70 |
A Fermi-energia meghatározása | 70 |
Kontaktjelenségek félvezetőkben | 71 |
Fém-félvezető átmenetek | 71 |
Félvezető-félvezető átmenetek | 74 |
Az áramvezetés mechanizmusa félvezetőkben | 75 |
Áramvezetés drift révén | 75 |
Áramvezetés diffúzió révén | 76 |
Einstein-összefüggés | 77 |
Áramvezetés homogén félvezetőben | 77 |
Félvezető eszközök | 79 |
Fém-félvezető diódák | 79 |
Potenciálmenet és határréteg kapacitás | 79 |
Áramsűrűség-feszültség karakterisztika számítása | 80 |
Félvezető-félvezető diódák | 81 |
Az áramsűrűség-feszültség karakterisztikája | 81 |
Átütési jelenségek. Zener-dióda, alagútdióda | 83 |
Tranzisztorok | 87 |
A rétegtranzisztor | 87 |
A térvezérlésű tranzisztor, FET (field effect transistor) | 91 |
Négyrétegű eszközök | 94 |
Optoelektronika | 95 |
Fotovezetés | 95 |
Lumineszcencia | 96 |
Folyadékkristályok | 96 |
A folyadékkristályos kijelzők | 97 |
Általános működési feltételek | 97 |
Fourier - analízis | 99 |
Valós Fourier - sorok | 99 |
Komplex Fourier - sorok | 104 |
Fourier integrál | 106 |
A kvantumelektronika alapjai | 108 |
Az abszolút fekete test sugárzási törvénye. Indukált átmenetek | 108 |
Kvantumerősítő | 111 |
Mézerek | 114 |
Lézerek | 115 |
A rubinlézer | 118 |
A hélium - neon lézer | 118 |
A félvezetőlézerek | 119 |
A lézerfény tulajdonságai | 119 |
A lézerek felhasználása | 120 |
Holográfia | 120 |
Távolságok mérése lézerfény segítségével | 121 |
További elhasználási területek | 122 |
Akusztika | 124 |
Hanghullámok | 124 |
Hangenergia, hangintenzitás | 126 |
Hangkeltők | 128 |
Rezgő húrok | 128 |
Rezgő rudak | 129 |
Membránok | 130 |
Sípok | 130 |
Hangszórók | 130 |
Piezokristályok | 130 |
A hang terjedése | 131 |
Hangelnyelés | 131 |
Doppler - effektus | 132 |
Ultrahangok | 134 |
Anyagszerkezetvizsgálati módszerek | 136 |
Sugárzás és anyag kölcsönhatása | 136 |
Ionizáló sugárzások | 136 |
Gamma-sugárzás | 136 |
Magfizikai módszerek az anyag szerkezetének vizsgálatára | 137 |
Fotoelektron spektroszkópia | 137 |
Nagyszögű Rutherford - féle szórás | 138 |
Csatornaeffektus | 138 |
Aktivációs analízis | 138 |
Dozimetria | 139 |