1.062.077

kiadvánnyal nyújtjuk Magyarország legnagyobb antikvár könyv-kínálatát

A kosaram
0
MÉG
5000 Ft
a(z) 5000Ft-os
szállítási
értékhatárig

Szilárd testek vizsgálata elektronokkal, ionokkal és röntgensugarakkal (dedikált példány)

Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról
A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Előszó

A részecske-, ill. elektromágneses sugárzással végzett szilárdtest-vizsgálati eljárások célja a vizsgált anyag mikrotartományai kémiai összetételének és szerkezeti felépítésének megismerése annak... Tovább

Előszó

A részecske-, ill. elektromágneses sugárzással végzett szilárdtest-vizsgálati eljárások célja a vizsgált anyag mikrotartományai kémiai összetételének és szerkezeti felépítésének megismerése annak érdekében, hogy összefüggéseket találjunk az anyag mikroszkopikus tulajdonságai és szerkezete, valamint kémiai összetétele között, és így lehetőségünk nyíljon a mikroszkopikus tulajdonságok céltudatos befolyásolására.
Könyvünkben - a téremissziós mikroszkópiával foglalkozó fejezet kivételével - csak azokat a szilárdtest-vizsgálati eljárásokat ismertetjük, amelyekben a gerjesztő és a detektált sugárzás egyaránt elektron-, ion- vagy röntgensugárzás.
Annak oka, hogy a szilárd testeknek részecske-, ill. elektromágneses sugárzással való kölcsönhatásán alapuló vizsgálati eljárások közül éppen ezeket az eljárásokat választottuk ki, kettős: egyrészt a könyv korlátozott terjedelme, másrészt e módszercsoportok számos ponton való érintkezése: hasonló megoldásokat alkalmaznak a vizsgálathoz használt sugárzás gerjesztéséhez (elektronforrások, ionforrások, röntgensugárforrások), szilárd testtel való kölcsönhatáskor keletkező, ill. módosított elektron-, ion- vagy röntgensugárzás kimutatásához és közösek a műszertechnikai alapok (a sugárzás előállítására használt nagyfeszültségű berendezések, vákuumtechnikai felszerelések). Vissza

Tartalom

Előszó 9
Előszó a magyar kiadáshoz 11
O. Brümmer - J. Heidenreich - K. H. Krebs - H. G. Schneider: Bevezetés 13
Giber János: A szilárdtest-szerkezet és -összetétel vizsgálatának lehetőségei Magyarországon 27
1. P. Klimanek: Röntgendiffraktometria 35
1.1. Az eljárás alapelve 35
1.2. Elméleti alapok 36
1.3. Kísérleti technika 45
1.4. Alkalmazások 51
1.5. Kálmán Alajos: A módszer hazai alkalmazása 61
1.6. Összefoglalás 62
1.7. Irodalom 62
2. H. R. Höche - O. Brümmer: Röntgentopográfia 66
2.1. Az eljárás alapelve 66
2.2. Elméleti alapok 66
2.3. Kísérleti technika 72
2.4. Alkalmazások
2.5. Összefoglalás 84
2.6. Irodalom - 85
3. G. Försterling: Röntgenfluoreszcens analízis 88
3.1. Az eljárás alapelve 88
3.2. Elméleti alapok 90
3.3. Kísérleti technika
3.4. Alkalmazások 97
3.5. Összefoglalás 102
3.6. Irodalom 103
4. W. Beier - A. Röder - O. Brümmer: Elektronsugaras mikroanalízis 105
4.1. Az eljárás alapelve 105
4.2. Elméleti alapok 106
4.3. Kísérleti technika 119
4.4. Alkalmazások 126
4.5. Stefániay Vilmos: Újabb eredmények 132
4.6. Stefániay Vilmos: A módszer hazai alkalmazása 133
4.7. Összefoglalás 136
4.8. Irodalom 136
5. G. Dräger: Nagyfelbontású röntgenspektroszkópia 140
5.1. Az eljárás alapelve 140
5.2. Elméleti alapok 141
5.3. Kísérleti technika 146
5.4. Alkalmazások 149
5.5. Szász András: A módszer hazai alkalmazása 153
5.6. Összefoglalás 154
5.7. Irodalom 155
6. K. Hohmuth - W. Rudolf: Szilárdtest-analízis ionindukált röntgensugárzással 157
6.1. Az eljárás alapelve 157
6.2. Elméleti alapok 158
6.3. Kísérleti technika 163
6.4. Alkalmazások 165
6.5. Szőkefalvi-Nagy Zoltán: A módszer hazai alkalmazása 169
6.6. Összefoglalás 170
6.7. Irodalom 171
7. J. Brückner: Nagy energiájú elektronok diffrakciója (HEED) 173
7.1. Az eljárás alapelve 173
7.2. Elméleti alapok 174
7.3. Kísérleti technika 178
7.4. Alkalmazások 182
7.5. Összefoglalás 189
7.6. Irodalom 190
8. J. Klöber - H. A. Schneider: Kis energiájú elektronok diffrakciója 192
8.1. Az eljárás alapelve 192
8.2. Elméleti alapok 193
8.3. Kísérleti technika 201
8.4. Alkalmazások 203
8.5. Menyhárd Miklós: Újabb eredmények 210
8.6. Összefoglalás 212
8.7. Irodalom 212
9. J. Heidenreich: Transzmissziós elektronmikroszkópia 214
9.1. Az eljárás alapelve 214
9.2. Elméleti alapok 215
9.3. Kísérleti technika 223
9.4. Alkalmazások 228
9.5. Csanády Andrásné: Újabb eredmények 234
9.6. Csanády Andrásné: A módszer hazai alkalmazása 235
9.7. Összefoglalás 236
9.8. Irodalom 237
10. J. Heidenreich - H. Johansen: Felületvizsgáló elektronmikroszkópia 242
10.1. Az eljárás alapelve 242
10.2. Elméleti alapok 243
10.3. Kísérleti technika 250
10.4. Alkalmazások 256
10.5. Összefoglalás 263
10.6. Irodalom 264
11. Ch. Edelman: Téremissziós mikroszkópia 270
11.1. Az eljárás alapelve 270
11.2. Elméleti alapok 271
11.3. Kísérleti technika 276
11.4. Alkalmazások 281
11.5. Összefoglalás 285
11.6. Irodalom 285
12. K. Breuer - H. Zscheile: Elektron-energiaveszteségi spektroszkópia 288
12.1. Az eljárás alapelve 288
12.2. Elméleti alapok 289
12.3. Kísérleti technika 292
12.4. Alkalmazások 296
12.5. Pozsgai Imre: Újabb eredmények 298
12.6. Összefoglalás 300
12.7. Irodalom 300
13. M. Klaua - G. Oertel: Auger-elektron-spektroszkópia 303
13.1. Az eljárás alapelve 303
13.2. Elméleti alapok 303
13.3. Kísérleti technika 307
13.4. Alkalmazások 312
13.5. Giber János: Újabb eredmények 317
13.6. Giber János: A módszer hazai alkalmazása 320
13.7. Összefoglalás 321
13.8. Irodalom 322
14. U. Berg: Fotoelektron-spektroszkópia 326
14.1. Az eljárás alapelve 326
14.2. Elméleti alapok 327
14.3. Kísérleti technika 332
14.4. Alkalmazások 335
14.5. Kövér László: Újabb eredmények 340
14.6. Kövér László: A módszer hazai alkalmazása 341
14.7. Összefoglalás 344
14.8. Irodalom 345
15. K. H. Krebs: Ionindukált elektronemisszió 348
15.1. Az eljárás alapelve 348
15.2. Elméleti alapok 349
15.3. Kísérleti technika 351
15.4. Alkalmazások 354
15.5. Összefoglalás 354
15.6. Irodalom 355
16. P. Pech: Ionreflexiós spektroszkópia 356
16.1. Az eljárás alapelve 356
16.2. Elméleti alapok 356
16.3. Kísérleti technika 360
16.4. Alkalmazások 361
16.5. Összefoglalás 365
16.6. Irodalom 365
17. G. Götz: Rutherford-visszaszórás (ionometria) 367
17.1. Az eljárás alapelve 367
17.2. Elméleti alapok 367
17.3. Kísérleti technika 372
17.4. Alkalmazások 373
17.5. Szőkefalvi-Nagy Zoltán: A módszer hazai alkalmazása 378
17.6. Összefoglalás 382
17.7. Irodalom 382
18. H. Düsterhöft: Szekunderion-tömegspektroszkópia 386
18.1. Az eljárás alapelve 386
18.2. Elméleti alapok 387
18.3. Kísérleti technika 397
18.4. Alkalmazások 399
18.5. Giber János: Újabb eredmények 404
18.6. Giber János: A módszer hazai alkalmazása 412
18.7. Összefoglalás 412
18.8. Irodalom 414
19. G. Dworzak: Elektronstimulált iondeszorpció 419
19.1. Az eljárás alapelve 419
19.2. Elméleti alapok 420
19.3. Kísérleti technika 421
19.4. Alkalmazások 426
19.5. összefoglalás 424
19.6. Irodalom 424
20. H. Mai: Számítógépes vezérlés, adatgyűjtés és kiértékelés 426
20.1. A számítógépes vizsgálórendszer alapjai 426
20.2. A számítógépes csatolás alapegységei 428
20.3. Szilárdtest-analizáló készülékek automatizált rendszerei 432
20.4. Összefoglalás és perspektívák 438
20.5. Irodalom 439
Tárgymutató 440
Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem