1.060.323

kiadvánnyal nyújtjuk Magyarország legnagyobb antikvár könyv-kínálatát

A kosaram
0
MÉG
5000 Ft
a(z) 5000Ft-os
szállítási
értékhatárig

Statisztikai minőség- (megfelelőség-) szabályozás

Statisztikai minőség- (megfelelőség-) szabályozás
Statisztikai minőség- (megfelelőség-) szabályozás Statisztikai minőség- (megfelelőség-) szabályozás
Szerző
Lektor
Budapest
'Dr. Papp László: Statisztikai minőség- (megfelelőség-) szabályozás ' összes példány
Kiadó: Műszaki Könyvkiadó-Magyar Minőség Társaság
Kiadás helye: Budapest
Kiadás éve:
Kötés típusa: Ragasztott papírkötés
Oldalszám: 394 oldal
Sorozatcím: Minőségmenedzsment
Kötetszám:
Nyelv: Magyar  
Méret: 24 cm x 16 cm
ISBN: 963-16-3006-4
Megjegyzés: Tankönyvi szám: 10 436. 2. kiadás. Fekete-fehér ábrákkal.
Értesítőt kérek a kiadóról
Értesítőt kérek a sorozatról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról
A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Fülszöveg

A PHARE HU 9305-01 TDQM (Technology Development and Quality Management) projekt teremtette meg annak a lehetőségét, hogy a piacgazdaságban nélkülözhetetlen alapkategóriák: a minőség és az innováció tananyagát kidolgozzák a szakemberek Magyarországon. A magyar gondolkodásban is paradigmaváltásra van szükség: az eddigi mennyiségi szemléletet fel kell váltania a minőségközpontú megközelítésnek. A piacgazdaság egyik jellemzője a verseny, amelyben elengedhetetlen szerepe van a minőség-kultúrának.
Nem csak elméleti könyvet akartunk írni a gyakorlatban oly fontos témáról, ezért receptszerű útmutatásokat és hasznos áttekintéseket is összegyűjtöttünk. Az eljárási receptek ismertetése mellett bemutatjuk a módszerek matematikai statisztikai hátterét is.
Könyvünk nemcsak egyetemi-főiskolai tananyag, hanem a minőségbiztosításban dolgozó szakemberek rohamosan bővülő körének is szól.

Tartalom

Előszó a Minőségmenedzsment sorozathoz9
Bevezetés11
Valószínűségelméleti és matematikai statisztikai alapok13
A szükséges valószínűségelméleti és matematikai statisztikai alapismeretek összefoglalása13
Alapfogalmak13
A legfontosabb diszkrét eloszlások20
A hipergeometrikus eloszlás21
A binomiális eloszlás22
A Poisson-eloszlás23
A legfontosabb folytonos eloszlás: normális eloszlás25
Eloszlások közelítése30
A hipergeometrikus eloszlás közelítése binomiális eloszlással30
A binomiális eloszlás közelítése Poisson-eloszlással30
A binomiális eloszlás közelítése nomális eloszlással31
A Poisson-eloszlás közelítése normális eloszlással35
A statisztikai következtetés37
A minta statisztikai jellemzői37
A számtani középérték37
A centárlis határeloszlási tétel39
A normális eloszlású minta szórásnégyzetének eloszlása: X2 (khi-négyzet)-eloszlás39
t-eloszlás (Student-eloszlás)42
F-eloszlás44
Diszkrét eloszláshoz vezető mintavétel45
Paraméterbecslés46
Pontbecslés46
Intervallumbecslés46
Hipotézisvizsgálat, statisztikai próbák50
u-próba50
Első- és másodfajú hiba56
X2-próba a variancia vizsgálatára62
Két szórásnégyzet összehasonlítása (F-próba)64
A t-próba66
Illeszkedésvizsgálat71
A tárgyalt statisztikai próbák áttekintő táblázata78
Ellenőrző kártyák81
Bevezetés a statisztikai minőségszabályozásba81
Stabilitás és képesség81
Az ellenőrző kártyák statisztikai háttere82
A vizsgált hipotézis83
Első- és másodfajú hiba85
A kimutatható eltérés nagysága: a jelleggörbe86
Rendszeres mintavétel és hipotézisvizsgálat: ellenőrző kártya87
Az ellenőrző kártyák használata90
Előzetes adatfelvétel és gyártásközi ellenőrzés90
A mintavétel megszervezésének szempontjai92
Átlagos sorozathossz94
A Shewhart-kártya érzékenyebbé tétele az időbeliség vizsgálatával96
Az ellenőrző kártyák fajtái99
A méréses ellenőrző kártyák szerkesztése100
Az átlag-terjedelem kártya (a variancia becslése a terjedelemből)102
Az átlag-szórás kártya (a variancia becslése a szórásból)107
Az átlag-szórásnégyzet kártya (a variancia becslése a szórásnégyzettel)110
Megjegyzések a kártyák paramétereinek kiszámításakor alkalmazott közelítésekről113
A mintaelemszám változása vagy változtatása121
Megjegyzés a külső előírásokkal készített ellenőrző kártyákhoz124
Útmutató az átlag-kártya használatához124
Mikor használjunk átlag-kártyát124
Mikor ne használjunk átlag-kártyát125
Az átlag-kártya előkészítésének és alkalmazásának lépései125
Beavatkozási határok kijelölése a másodfajú hiba alapján ill. annak figyelembe vételével126
Medián-kártya131
Ellenőrző kártya egyedi értékekre133
Mozgó terjedelem-kártya (MR chart)134
Az alkalmazott statisztikai feltételezések, és az eltérések következményei (normális eloszlás, függetlenség, homoszcendaszticitás)136
Bonyolultabb méréses ellenőrző kártyák138
Mi a baj a Shewhart-kártyákkal138
A CUSUM-kártya (halmozott összegek ellenőrző kártyája)141
A CUMUS-kártya problémái és megoldásuk: FIR, kombinált (Shewart+)150
Útmutató a CUSUM-kártya használatához153
Mozgóátlag-kártya (MA chart)154
EWMA kártya157
A run test valamint a CUSUM és az EWMA-kártya összevetése160
Trend esetén alkalmazható ellenőrző kártyák161
Módosított határú átlag-kártya162
Regressziós ellenőrző kártya163
Több áram kezelése: csoport-kártyák164
Folytonos ill. szakaszos gyártások kezelése167
Elő-szabályozás168
Ellenőrző kártyák rövid gyártási sorozatokra (short run charts)175
Azonos variancia175
Különböző variancia177
Minősítéses ellenőrző kártyák178
np-kártya178
p-kártya190
Hiba-kártyák197
c-kártya198
u-kártya203
A méréses és minősítéses ellenőrző kártyák összevetése205
A minősítéses ellenőrző kártyák összefoglaló táblázata206
Szűkített határú idomszeres ellenőrzés206
Méréses helyett minősítéses ellenőrzés208
A mintaelemszám csökkentése minősítéses ellenőrző kártyáknál210
Minősítéses ellenőrző kártyák rövid gyártási sorozatokra (short run charts)211
Képességvizsgálatok212
A folyamatképesség vizsgálata212
Minőség-képességi indexek212
A Taguchi-féle minőség-fogalom és a négyzetes veszteségfüggvény225
A mérőeszközök képességvizsgálata235
A reprodukálhatóság és ismételhetőség vizsgálata (AIAG R&R study)236
Terjedelem-módszer237
ANOVA-módszer242
A mérés bizonytalanságának becslésére szolgáló további kísérleti tervek251
Az AIAG R&R módszer kiterjesztése több faktor viszgálatára251
A mérőműszer bizonytalanságának külön vizsgálata252
Hierarchikus osztályozásra épülő tervek253
Átvételi minőségellenőrzés257
Az átvételi minőségellenőrzés alapelvei257
Alapfogalmak258
A szállító és a vevő kockázata, jelleggörbe258
A mintavételi vagy ellenőrzési terv fogalma263
A mintavételi tervek rendszerezése264
Minősítéses és méréses átvételi ellenőrzés264
A mintavétel módszerei266
Az ellenőrzés lépcsőinek száma267
Az átvételi ellenőrzés szigorúsága267
Mintavételi tervek minősítéses ellenőrzéshez269
Egylépcsős ellenőrzés kétpontos eljárással269
Egylépcsős ellenőrzés a szabvány táblázatainak használatával270
A táblázatok szerkezete272
Áttérési szabályok a különböző szigorúsági fokozatok között276
Javító ellenőrzés, átlagos kimenő hibaszint278
Kétlépcsős ellenőrzés280
A kétlépcsős mintavételi terv280
Működési jelleggörbe282
Átlagos mintaelemszám284
A kétlépcsős ellenőrzés előnyei és hátrányai287
Mintavételi tervek méréses ellenőrzéshez288
Mintavételi tervek az eloszlás paraméterére289
A várható érték vizsgálata egyoldali tűréshatár esetén, szigma ismert290
A várható érték vizsálata kétoldali tűréshatár esetén, szigma ismert293
A várható érték vizsgálata, szigma nem ismert295
Mintavételi tervek a selejtarány ellenőrzésére296
Mintavételi tervek a selejtarány ellenőrzésére a k-módszerrel298
Mintavételi tervek a selejtarány ellenőrzésére az M-módszerrel300
Átvételi ellenőrzési (mintavételi) tervek a szabvány táblázataiból301
A minőség javítása306
Minőségjavító kísérlettervezés306
Taguchi-kísérlettervezés306
A minőségre ható faktorok306
Ortogonális kísérleti tervek308
Az eremények értékelése, a jel/zaj viszony311
Shainin-kísérlettervezés335
Sokváltozós diagram (Multi-var charts)335
Alkatrész-keresés (Component search)338
Páronkénti összehasonlítás (Paired comparisons)339
Változók keresése (Variables search)339
Teljes faktoros kísérleti tervek (Full factorial)339
B/C elemzés (Better versus Current)340
Kétváltozós diagram (Scatter plot)341
Esettanulmányok343
Statisztikus folyamatszabályozás kialakítása üvegalkatrész gyártásánál343
Gépipari termék minőségproblémájának megoldása360
Irodalomjegyzék369
Függelék371
u-eloszlás eloszlásfüggvényének táblázata372
X2-eloszlás kritikus értékei374
Student-féle t-eloszlás kritikus értékei375
Fisher-féle F-eloszlás kritikus értékei376
Állandók a méréses ellenőrző kártyák paramétereinek számításához378
Az MSZ 548 szabvány táblázatai minősítéses átvételi ellenőrzéshez379
Az MSZ 213-82 szabvány táblázatai méréses átvételi ellenőrzéshez384
A fontosabb angol szakkifejezések magyar megfelelője386
Tárgymutató390

Témakörök

Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem