kiadvánnyal nyújtjuk Magyarország legnagyobb antikvár könyv-kínálatát
| Bevezetés | 5 |
| A pásztázó erőméréses mikroszkópia méréstechnikai és műszertechnikai áttekintése | 6 |
| Detektálási rendszerek | 8 |
| Vezetőképességen alapuló detektálás | 9 |
| Fény-reflexiós detektálás | 10 |
| Interferometriás detektálás | 10 |
| Kapacitív detektálás | 11 |
| Mérőrugók, mérőtűk | 11 |
| Felülettopográfiai mérési metodikák | 12 |
| "Contact" mérési technika | 12 |
| "Noncontact" mérési eljárás | 15 |
| "Tapping" mérési eljárás | 16 |
| Összefoglalás | 17 |
| Irodalmi hivatkozások | 17 |
| Műszertechnikai megfontolások: az analóg felépítésű pásztázó erőméréses mikroszkóp (SFM) | 19 |
| A mintamozgató és optikai detektálási rendszer | 19 |
| A mintamozgató rendszer felépítése | 21 |
| Az optikai érzékelőrendszer felépítése | 22 |
| A vezérlőelektronika módosítása | 22 |
| High Voltage (H.V.) Erősítő | 23 |
| Az új pásztázás-vezérlő (Rotator) | 25 |
| Az analóg felépítésű SFM | 27 |
| Összefoglalás | 28 |
| Irodalmi hivatkozások | 28 |
| A műszerfejlesztés különleges igényei | 29 |
| Az egyedi műszerfejlesztés célja | 29 |
| A kereskedelemben kapható SFM-ek méréstechnikai korlátai erőmérésnél | 30 |
| A z-iránú mintameghajtás problémái | 30 |
| A detektálási rendszer korlátai | 31 |
| Az új erő-elmozdulás függvényt mérő rendszer | 35 |
| Lineáris pozícióérzékelős detektálási rendszer | 35 |
| A vezérlő elektronika | 38 |
| Összefoglalás | 38 |
| Irodalmi hivatkozások | 41 |
| Új mérési eljárás: az állandó relatív rugalmasságon alapuló erőmodulációs méréstechnika | 42 |
| Az erőmodulációs méréstechnika | 43 |
| Az állandó erőbeállítású moduláció (isoforce modulation) | 43 |
| Az állandó relatív rugalmasságon alapuló moduláció (isocompliance modulation) | 45 |
| Az isocompliance méréstechnika megvalósítása | 48 |
| A mérés beállítása | 50 |
| A topográfiai egyenetlenségek hatása isocompliance mérésnél | 54 |
| A mérőrugólemez rugóállandójának hatása isocompliance mérésnél | 56 |
| Összefoglalás | 59 |
| Irodalmi hivatkozások | 59 |
| Artifaktok a pásztázó erőmérésen alapuló mikroszkópiában (SFM) | 61 |
| Lehetséges artifaktok az SFM méréstechnikában | 61 |
| Fehérjemanipuláció SFM-el csillámfelületen | 63 |
| Szándékos fehérjemanipuláció SFM-el | 69 |
| A mérőtű hatása szilárd felület mérésekor | 70 |
| A mérőtű geometriája által okozott artifakt | 70 |
| A tökéletes artifakt | 72 |
| Összefoglalás | 73 |
| Irodalmi hivatkozások | 73 |
| Adszorbciós rétegek mérése higanycsepp felületén pásztázó alagúteffektuson alapuló mikroszkóppal (STM) | 75 |
| A kísérleti eljárás célja | 75 |
| A kísérleti mérőrendszerek leírása | 77 |
| Az elsőként megépített mérőrendszer | 78 |
| A módosított kísérleti rendszer | 82 |
| Mérési eredmények | 85 |
| Optikai megfigyelések | 85 |
| Az STM eredmények | 90 |
| Összefoglalás | 95 |
| Irodalmi hivatkozások | 96 |
| Összefoglalás | 97 |
Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.