kiadvánnyal nyújtjuk Magyarország legnagyobb antikvár könyv-kínálatát
Bevezetés | 5 |
A pásztázó erőméréses mikroszkópia méréstechnikai és műszertechnikai áttekintése | 6 |
Detektálási rendszerek | 8 |
Vezetőképességen alapuló detektálás | 9 |
Fény-reflexiós detektálás | 10 |
Interferometriás detektálás | 10 |
Kapacitív detektálás | 11 |
Mérőrugók, mérőtűk | 11 |
Felülettopográfiai mérési metodikák | 12 |
"Contact" mérési technika | 12 |
"Noncontact" mérési eljárás | 15 |
"Tapping" mérési eljárás | 16 |
Összefoglalás | 17 |
Irodalmi hivatkozások | 17 |
Műszertechnikai megfontolások: az analóg felépítésű pásztázó erőméréses mikroszkóp (SFM) | 19 |
A mintamozgató és optikai detektálási rendszer | 19 |
A mintamozgató rendszer felépítése | 21 |
Az optikai érzékelőrendszer felépítése | 22 |
A vezérlőelektronika módosítása | 22 |
High Voltage (H.V.) Erősítő | 23 |
Az új pásztázás-vezérlő (Rotator) | 25 |
Az analóg felépítésű SFM | 27 |
Összefoglalás | 28 |
Irodalmi hivatkozások | 28 |
A műszerfejlesztés különleges igényei | 29 |
Az egyedi műszerfejlesztés célja | 29 |
A kereskedelemben kapható SFM-ek méréstechnikai korlátai erőmérésnél | 30 |
A z-iránú mintameghajtás problémái | 30 |
A detektálási rendszer korlátai | 31 |
Az új erő-elmozdulás függvényt mérő rendszer | 35 |
Lineáris pozícióérzékelős detektálási rendszer | 35 |
A vezérlő elektronika | 38 |
Összefoglalás | 38 |
Irodalmi hivatkozások | 41 |
Új mérési eljárás: az állandó relatív rugalmasságon alapuló erőmodulációs méréstechnika | 42 |
Az erőmodulációs méréstechnika | 43 |
Az állandó erőbeállítású moduláció (isoforce modulation) | 43 |
Az állandó relatív rugalmasságon alapuló moduláció (isocompliance modulation) | 45 |
Az isocompliance méréstechnika megvalósítása | 48 |
A mérés beállítása | 50 |
A topográfiai egyenetlenségek hatása isocompliance mérésnél | 54 |
A mérőrugólemez rugóállandójának hatása isocompliance mérésnél | 56 |
Összefoglalás | 59 |
Irodalmi hivatkozások | 59 |
Artifaktok a pásztázó erőmérésen alapuló mikroszkópiában (SFM) | 61 |
Lehetséges artifaktok az SFM méréstechnikában | 61 |
Fehérjemanipuláció SFM-el csillámfelületen | 63 |
Szándékos fehérjemanipuláció SFM-el | 69 |
A mérőtű hatása szilárd felület mérésekor | 70 |
A mérőtű geometriája által okozott artifakt | 70 |
A tökéletes artifakt | 72 |
Összefoglalás | 73 |
Irodalmi hivatkozások | 73 |
Adszorbciós rétegek mérése higanycsepp felületén pásztázó alagúteffektuson alapuló mikroszkóppal (STM) | 75 |
A kísérleti eljárás célja | 75 |
A kísérleti mérőrendszerek leírása | 77 |
Az elsőként megépített mérőrendszer | 78 |
A módosított kísérleti rendszer | 82 |
Mérési eredmények | 85 |
Optikai megfigyelések | 85 |
Az STM eredmények | 90 |
Összefoglalás | 95 |
Irodalmi hivatkozások | 96 |
Összefoglalás | 97 |
Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.