1.060.457

kiadvánnyal nyújtjuk Magyarország legnagyobb antikvár könyv-kínálatát

A kosaram
0
MÉG
5000 Ft
a(z) 5000Ft-os
szállítási
értékhatárig

Pásztázó alagúteffektuson és erőkölcsönhatáson alapuló mikroszkópia műszertechnikai megfontolásai és méréstechnikai problémái

Szerző
,
Kiadó:
Kiadás helye:
Kiadás éve:
Kötés típusa: Amatőr papírkötés
Oldalszám: 98 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv: Magyar  
Méret: 29 cm x 21 cm
ISBN:

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról
A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Előszó

A XX. század közepe felé úgy tűnt, hogy elérkeztünk a mikro és a szubmikro világ megfigyelésének felbontási határára. A fénymikroszkópoknál a megfigyelésre használt fény hullámhossza szabta meg a... Tovább

Előszó

A XX. század közepe felé úgy tűnt, hogy elérkeztünk a mikro és a szubmikro világ megfigyelésének felbontási határára. A fénymikroszkópoknál a megfigyelésre használt fény hullámhossza szabta meg a határt, míg a szubmikro világban a Heisenberg relációk adták meg a korlátokat. Ezen a helyzeten nagymértékben változtatott a 80-as évektől kezdődő időszak, melyben új méréstechnikák alakultak ki, melyek vagy elektromos vezetőképességre, vagy egyéb lokális kölcsönhatásra épültek. Disszertációmban célom - ennek az új területnek az irodalmi összefoglalásán túl -, hogy bemutassam azokat az eredményeket, melyeket ennek az új technikának megfelelő értelmezésében értem el.
Ennek a munkának során többször kellett olyan műszer- és rendszerfejlesztéssel foglalkoznom, amelynek segítségével túl lehetett mutatni az éppen akkor meglévő alkalmazott technikákon. Természetesnek lehet venni, hogy egy ilyen, elsősorban biológiai alkalmazásokra kiterjedő munkában számos nemzetközileg ismert biológussal, kémikussal dolgoztam együtt. Az eredmények, melyeket bemutatni szeretnék, magasszintű csoportmunka folytán jöttek létre, ahol az én feladatom főként a villamosmérnöki tevékenység volt. Ehelyütt is szeretném megköszönni minden munkatársamnak azt az őszinte és célratörő együttműködést, mely eredményeinket létrehozta, és azt a légkört, amelyben az elmúlt több mint öt évben dolgozhattam. Vissza

Tartalom

Bevezetés5
A pásztázó erőméréses mikroszkópia méréstechnikai és műszertechnikai áttekintése6
Detektálási rendszerek8
Vezetőképességen alapuló detektálás9
Fény-reflexiós detektálás10
Interferometriás detektálás10
Kapacitív detektálás11
Mérőrugók, mérőtűk11
Felülettopográfiai mérési metodikák12
"Contact" mérési technika12
"Noncontact" mérési eljárás15
"Tapping" mérési eljárás16
Összefoglalás17
Irodalmi hivatkozások17
Műszertechnikai megfontolások: az analóg felépítésű pásztázó erőméréses mikroszkóp (SFM)19
A mintamozgató és optikai detektálási rendszer19
A mintamozgató rendszer felépítése21
Az optikai érzékelőrendszer felépítése22
A vezérlőelektronika módosítása22
High Voltage (H.V.) Erősítő23
Az új pásztázás-vezérlő (Rotator)25
Az analóg felépítésű SFM27
Összefoglalás28
Irodalmi hivatkozások28
A műszerfejlesztés különleges igényei29
Az egyedi műszerfejlesztés célja29
A kereskedelemben kapható SFM-ek méréstechnikai korlátai erőmérésnél30
A z-iránú mintameghajtás problémái30
A detektálási rendszer korlátai31
Az új erő-elmozdulás függvényt mérő rendszer35
Lineáris pozícióérzékelős detektálási rendszer35
A vezérlő elektronika38
Összefoglalás38
Irodalmi hivatkozások41
Új mérési eljárás: az állandó relatív rugalmasságon alapuló erőmodulációs méréstechnika42
Az erőmodulációs méréstechnika43
Az állandó erőbeállítású moduláció (isoforce modulation)43
Az állandó relatív rugalmasságon alapuló moduláció (isocompliance modulation)45
Az isocompliance méréstechnika megvalósítása48
A mérés beállítása50
A topográfiai egyenetlenségek hatása isocompliance mérésnél54
A mérőrugólemez rugóállandójának hatása isocompliance mérésnél56
Összefoglalás59
Irodalmi hivatkozások59
Artifaktok a pásztázó erőmérésen alapuló mikroszkópiában (SFM)61
Lehetséges artifaktok az SFM méréstechnikában61
Fehérjemanipuláció SFM-el csillámfelületen63
Szándékos fehérjemanipuláció SFM-el69
A mérőtű hatása szilárd felület mérésekor70
A mérőtű geometriája által okozott artifakt70
A tökéletes artifakt72
Összefoglalás73
Irodalmi hivatkozások73
Adszorbciós rétegek mérése higanycsepp felületén pásztázó alagúteffektuson alapuló mikroszkóppal (STM)75
A kísérleti eljárás célja75
A kísérleti mérőrendszerek leírása77
Az elsőként megépített mérőrendszer78
A módosított kísérleti rendszer82
Mérési eredmények85
Optikai megfigyelések85
Az STM eredmények90
Összefoglalás95
Irodalmi hivatkozások96
Összefoglalás97

Pungor András

Pungor András műveinek az Antikvarium.hu-n kapható vagy előjegyezhető listáját itt tekintheti meg: Pungor András könyvek, művek
Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem