A szilárdtestkutatás újabb eredményei 5.

Fülszöveg

Berényi Dénes - A modern felületvizsgálati módszerek áttekintése: A tanulmány a főbb felületvizsgálati módszerek rövid összefoglalását adja. Ismerteti az egyes eljárások főbb jellemzőit és az általuk nyerhető információkat, különös tekintettel a felületi analízisra (érzékenység, alkalmazási tartomány, információs mélység stb.)

Bodó Zoltán - Gergely György: Szilárd testek szabad felülete: A szerzők a szilárd testek szabad (vákuum- vagy gáztérrel érintkező) felületének főbb tulajdonságait tekintik át. Klasszikus fizikai és termodinamikai alapokból kiindulva a Fermi-statisztika alapján építik fel a felületen az elektronállapotok kialakulását. A tanulmány második részében az atomosan tiszta felületek előállítását, stabilitását tárgyalják. Áttekintik a felület főbb paramétereit (kilépési munka, eletronaffinitás, felületi állapotok stb.) és a meghatározásukra szolgáló főbb módszereket.

Berényi Dénes - Fotoelektron-spektroszkópia: XPS, UPS: A szerző a fotongerjesztéses (röntgen, ultraibolya) XPS-, továbbá UPS-módszerek fizikai alapjainak áttekintése utána kisérleti technikát taglalja. Az XPS-módszer a felületi atomok meghatározása (elemzése) mellett kémiai kötésmódjukról nyújt alapvető információt. Az UPS-módszer a felületi állapotok, a sávszerkezet és az adszorpciós folyamatok hatékony vizsgálati módszere. A tanulmány részletesen foglalkozik az alkalmazásokkal, melyeket adszorpciós, katalízis stb. vizsgálatok kapcsán mutat be.

Vargáné Josepovits Katalin - Pavlyák Ferenc : Szekunder ionemissziós tömegspektroszkópia alkalmazása a felületvizsgálatokban: A szerzők a fizikai folyamatok áttekintése után a kísérleti technikát részletezik. A szekunder ionemissziós tömegspektroszkópia (SIMS) a felület elemzésének legérzékenyebb módszere. Komplementer vizsgálatokkal kiegészítve kvantitatív információk nyerhetők segítségével. A szerzők taglalják az elemzési problémákat. Áttekintik az alkalmazások igen széles körét: a félvezetők, a kohászat stb. terén bemutatott nagyszámú példa a technológia számára nyújt információkat. Vissza