A kosaram
0
MÉG
5000 Ft
a(z) 5000Ft-os
szállítási
értékhatárig

Elektronikai technológia laboratórium

Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem Villamosmérnöki és Informatikai Kar

Szerző
Budapest
Kiadó: Műegyetemi Kiadó
Kiadás helye: Budapest
Kiadás éve:
Kötés típusa: Ragasztott papírkötés
Oldalszám: 91 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv: Magyar  
Méret: 29 cm x 20 cm
ISBN:
Megjegyzés: Fekete-fehér ábrákkal illusztrálva. Tankönyvi szám: 55056.
Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról
A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Előszó

Az elektronikus készülékek, berendezések döntő többségénél a diszkrét aktív és passzív alkatrészeket nyomtatott huzalozású lemezekre szerelik. E lemezek funkciója az alkatrészek rögzítése mellett... Tovább

Előszó

Az elektronikus készülékek, berendezések döntő többségénél a diszkrét aktív és passzív alkatrészeket nyomtatott huzalozású lemezekre szerelik. E lemezek funkciója az alkatrészek rögzítése mellett az alkatrészek kivezetői közötti villamos kapcsolat megteremtése, az áramkör összehuzalozása.
A nyomtatott huzalozás általában valamilyen vázanyaggal merevített műgyanta szigetelő lemez felületén kialakított rész vezetékhálózat. Elnevezése onnan ered, hogy a vezeték-hálózatot a nyomdatechnikában is használt eljárások alakítják ki a szigetelő felületen. A vezetőréteget általában kémiai, elektrokémiai eljárásokkal készítik, a huzalozásképet, a "rajzolatot" pedig fotoreziszt technológiával alakítják ki. Vissza

Tartalom

Elektronikai technológia
I. Nyomtatott huzalozások technológiája (Dr. Pinkola János, Dr. Gál László) 5
II. Vékonyrétegek technológiája (Dr. Szikora Béla, Dr. Illyefalvi-Vitéz Zsolt, Dr. Réczey Gusztávné) 13
III. Felületi szereléstechnológia (Dr. Ripka Gábor, Hajdu István) 23
IV. Integrált áramkörök mikroszkópi vizsgálata (Dr. Mizsei János, Timárné Horváth Veronika) 31
V. Technológiai mérések a monolit IC gyártási eljárás ellenőrzésére (Dr. Mizsei János, Dr. Végh Gerzson) 38
VI. Mérések a CMOS IC gyártási eljárás ellenőrzésére (Oroszlány Lajos, Dr. Mizsei János) 55
Kiegészítés a félvezető tárgyú mérésekhez (Dr. Mizsei János) 64
Laboratórium II.
M1 Monolitikus IC-k egyes méréstechnikai kérdései (Oroszlány Lajos, Páhi András) 68
M2 Nyomtatott huzalozású lemezek számítógépes tervezése és EMC analízise (Dr. Ruszinkó Miklós, Dr. Németh Pál) 76
Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem