1.067.053

kiadvánnyal nyújtjuk Magyarország legnagyobb antikvár könyv-kínálatát

A kosaram
0
MÉG
5000 Ft
a(z) 5000Ft-os
szállítási
értékhatárig

Bevezetés a röntgendiffrakciós szerkezetkutatásba

Szerző
Budapest
Kiadó: Magyar Kémikusok Egyesülete Fizikai-Kémiai Szakosztálya
Kiadás helye: Budapest
Kiadás éve:
Kötés típusa: Tűzött kötés
Oldalszám: 295 oldal
Sorozatcím: Elméleti kémia
Kötetszám: 1
Nyelv: Magyar  
Méret: 28 cm x 20 cm
ISBN:
Megjegyzés: Fekete-fehér ábrákkal illusztrálva.
Értesítőt kérek a kiadóról
Értesítőt kérek a sorozatról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról
A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Előszó

A röngten-kristályszerkezeti kutatás, melyből a röntgenelemzés is kifejlődött, hazánkban már régi hagyományokra tekinthet vissza. E sorok írója 1926-1930. évi külföldi tanulmányai után hazatérve... Tovább

Előszó

A röngten-kristályszerkezeti kutatás, melyből a röntgenelemzés is kifejlődött, hazánkban már régi hagyományokra tekinthet vissza. E sorok írója 1926-1930. évi külföldi tanulmányai után hazatérve iparkodott megalapozni a magyar kristályszerkezeti kutatást. Akkoriban ez tisztán tudományos céllal történt; azóta - különösen a második világháború után - gyakorlati fontosságra is szert tett. Ma mindenütt széles körben használják a röntgenmódszert minőségi és mennyiségi elemzésre azért is, mert vele nemcsak elemeket, hanem kristályos vegyületeket is ki lehet mutatni és mennyiségileg meghatározni. A módszer gyorsasága és pontossága, valamint roncsolásmentes volta miatt mindinkább terjed. Tekintettel arra, hogy iparunk is modern eljárások bevezetését tűzte ki céljául, fontos szükségletet elégített ki a Magyar Kémikusok Egyesületének Kristálykémiai Szakcsoportja és a Magyar Tudományos Akadémia Központi Kémiai Kutatóintézetének Röntgendiffrakciós csoportja által rendezett röntgendiffrakciós tanfolyam.
Ennek keretében a röntgensugár keletkezését, fizikáját, diffrakcióját, a kristálytan alapjait, a diffrakciós módszerek elméleti és gyakorlati kivitelét ismertettük, továbbá a kristályos fázisok identifikálását és mennyiségi meghatározását. E téren a KKKI röntgendiffrakciós csoportja által kidolgozott, általánosan alkalmazható mennyiségi meghatározási eljárást is módunkban volt ismertetni, mely a röntgenmódszer alkalmazási területét lényegesen kiterjeszti. Vissza

Tartalom

A röntgendiffrakciós módszerek kialakulásának története1
Krisztallográfiai és röntgenfizikai alapfogalmak11
A geometriai krisztallográfia elemei11
A kristályok mint térrácsok24
Fizikai krisztallográfia34
Röntgenfizika37
A röntgeninterferencia jelensége49
A kristályrácson bekövetkező röntgendiffrakció értelmezése57
Reciprok rács57
Röntgensugarak elhajlása kristályrácson61
Álló egykristály elhajlási képe69
Laue felvétel69
A Laue felvételek szimmetriája, Laue csoportok73
Monoklin /ferde/ szög meghatározása Laue képből77
Mozgó egykristály elhajlási képe 79
Forgókristály felvételek értelmezése79
Oszcillációs felvételek83
Weissenberg felvételek88
A reciprok rács torzítatlan leképzése100
De Joung-Boumann goniométer - A Buerger féle precessziós goniométer101
Egykristályok orientálása104
Polikristályos anyagok röntgenszórása111
Portfelvételi módszerek alapelve111
Kamratipusok és konstrukciós elvek113
Filmfelrakási rendszerek122
Fókuszáló kamrák129
Kristály-monokromátorok130
Sikmonokromátorok132
Johann féle monokromátor134
Johanson féle monokromátor135
De Wolff féle monokromátor138
Chauchois féle monokromátor140
Monokromátorral felszerelt fókusz, ún. Guinier kamrák142
Guinier kamra142
De Wolff féle kamra147
Jagodzinsky féle kamra148
Siemens kamra148
KMSzP /szovjet/ kamra149
Porfelvételek értelmezése és indexelése151
Bevezetés151
Porfelvétel indexelése szabályos kristály esetén155
Kisebb szimmetriájú kristályokról készült porfelvételek indexelése159
Nagypontosságú rácsméretmeghatározás167
Fotografikus intenzitásmérés175
Bevezetés175
Denzitométerek179
Intenzitásmérés becslés útján182
Integráló kamrák183
Hibaforrások186
Ionizációs detektorral működő röntgengoniométerek, pordiffraktométerek189
Bevezetés189
A diffraktométer geometriája és optikája191
A röntgensugárintenzitás mérésére használatos számlálók működésmechanizmusának alapelvei199
Proporcionális számlálók201
Geiger-Müller számlálók202
Elektronsokszorozók, illetve szcintillációs számlálók204
A részecskeszámlálók alkalmazása röntgeninterferenciák mérésére209
Sugárabszorpció209
Kvantumszámlálási hatásfok209
Lineáris intenzitásátvitel210
A számlálók megbízhatósága, háttéreffektus és a jelek diszkriminálhatósága212
Impulzusszámláló készülék214
Impulzusszámlaosztó számlálók /scalerek/214
Impulzusszámátlagmérők /rateméterek/217
A diffraktorméter sugárintenzitásmérő egysége218
Impulzusnagyság analizátor218
Vezérlő egység219
Diffrakciós kép felvétele automatikusan működő diffraktométerrel222
A diffraktométer helyes működésének feltételei227
Kvalitatív röntgendiffrakciós analízis /Kristályos fázisok identifikálása/235
Bevezetés235
Egyeskristályok identifikálása237
Mikrokristályos anyag identifikálása237
Az ASTM index241
Kvantitatív röntgendiffrakciós analízis 247
A kvantitatív analízis alapelve247
Kétkomponensű rendszerek kvantitatív analízise254
Többkomponensű rendszerek kvantitatív analízise258
Diffrakciós-abszorpciós módszer259
A belső standard alkalmazásának módszere263
Hígításos módszer265
Direkt módszer267
A pontos intenzitásmérés feltételei269
A diffraktométernél használt preparátumok készítésének módszerei283
A reciprok rács szerkesztése287
Irodalomjegyzék295
Tartalomjegyzék
Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem