Ásványtani praktikum II.

Szerző

Dr. Sztrókay Kálmán Imre

Lektor

Budapest

'Dr. Sztrókay Kálmán Imre: Ásványtani praktikum II. ' összes példány

Kiadó:	Tankönyvkiadó Vállalat
Kiadás helye:	Budapest
Kiadás éve:	1970
Kötés típusa:	Fűzött keménykötés
Oldalszám:	494 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv:	Magyar
Méret:	24 cm x 17 cm
ISBN:
Megjegyzés:	Tankönyvi szám: 42155/II. Fekete-fehér ábrákkal, mellékletekkel.

Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Tartalom

TERMIKUS VIZSGÁLATOK
Bevezetés	13
Differenciális termikus analízis (DTA) (Nemecz Ernő)	15
A DTA-készülékek felépítése	15
Kemence	16
Mintatartó	17
Hőelemek (termoelektromos pirométerek)	19
Regisztráló berendezések	23
Speciális készülékek	24
A DTA-felvétel készítése és a görbe jellegzetességei	25
A csúcsjellemzőket befolyásoló tényezők	27
A készülék szerkezeti felépítésének szerepe	27
A hevítési sebesség hatása a DTA-görbére	28
A minta-előkészítés szerepe	29
Ásványok minőségi meghatározása DTA-sel	31
Ásványok mennyiségi meghatározása DTA-sel	35
A mennyiségi elemzés alapelve	35
A mennyiségi elemzés gyakorlati kivitelezése	38
Termogravimetria (Nemecz E.)	41
Mérés termomérleggel (a TG-görbe)	42
Derivatográfia (Nemecz E.)	47
Irodalom
Fázisdiagramok (Grasselly Gyula)
A fázistörvény	53
Fázisdiagramok felvétele, szerkesztése	56
A koncentráció ábrázolásmódja a fázisdiagramon	59
Fázisok összetételének, illetve mennyiségének meghatározása	61
Kétkomponensű egyszerű eutektikus rendszer	61
Kétkomponensű rendszer kongruens olvadáspontú vegyületképzéssel	67
Leucit (KAlSi2O6) - SiO2-rendszer kristályosodása	69
Hézagmentes elegykristály fázisdiagramja	73
Háromkomponensű rendszerek	76
OPTIKAI VIZSGÁLATOK ÁTLÁTSZÓ ÁSVÁNYOKON (Grasselly Gyula)
A polarizációs mikroszkóp	91
A mikroszkóp felépítése és működése	91
Objektívek és okulárok	95
A mikroszkóp hasznos nagyítása és feloldóképessége	99
Egyszerűbb mikroszkópi mérések	103
Hosszúságmérés mikroszkópban	103
Hosszúság mérése mikrométer-okulárral	103
Hosszúság mérése a mikroszkópi kép kivetítésével	106
Hosszúságmérés keresztasztallal	107
Ásványos elegyrészek mennyiségének meghatározása	107
Elemzés hálózatos mikrométer-okulárral	107
Térfogatelemzés integrációs asztallal	109
Lemezvastagság mérése mikroszkópban	114
A nagyítás mértékének meghatározása mikrofényképezésnél	115
Megvilágítási idő meghatározása mikrofényképezésnél	116
A törésmutató meghatározása	119
Fénytörés	119
Teljes visszaverődés	122
A törésmutató meghatározása Abbe-refraktométerrel	123
A törésmutató meghatározása mikroszkópban	130
Becke-féle módszer	130
Immerziós módszer	132
A kioltási szög és mérése	137
Segédlemezek, kompenzátorok alkalmazása	141
Az addíció és szubtrakció jelensége	141
Anizotróp lemez rezgésirányainak meghatározása	143
Útkülönbség meghatározása kompenzátorokkal	145
Berek-kompenzátorral	145
Ehringhaus-kompenzátorral	148
Babinet-kompenzátorral	152
Kvarcékkel, a Michel-Lévy-színtábla segítségével	154
Kristályok optikai forgatóképességének vizsgálata	159
Kvarclemez vizsgálata linárisan poláros, monokromatikus fényben	161
A forgatás irányának megállapítása	162
Kvarclemez vizsgálata lineárisan poláros összetett fényben	163
Interferenciaképek (tengelyképek) vizsgálata	165
Optikailag egytengelyű kristályok tengelyképe	166
Optikailag kéttengelyű kristályok tengelyképe	171
Anomális tengelyképek	178
Optikai tengelyszög meghatározása	179
Az optikai jelleg meghatározása a tengelyképen segédlemezekkel	182
Optikailag egytengelyű kristályok	182
Optikailag kéttengelyű kristályok	185
Irodalom
Fjodorov-féle optikai vizsgálat (Buda Gy.)	189
A Fjodorov-féle univerzál asztal alkalmazása	189
A készülék leírása	190
A Fjodorov-féle univerzál asztal részei	190
A Fjodorov-asztal felszerelése és centrálása	193
Objektívek és hemiszférák	194
Az indikatrix meghatározása	196
Izotróp kristály	196
Optikailag egytengelyű kristály	196
Optikailag kéttengelyű kristály	197
Kristálymorfológiai elemek rögzítése	198
A morfológiai és optikai irányok ábrázolása	198
A kettőstörés meghatározása	200
Piroxének vizsgálata	201
Plagioklászok vizsgálata univerzál asztallal	204
Anortittartalom meghatározása a hasadás alapján	204
Plagioklászok An%-ának és ikertörvényének meghatározása	205
Irodalom
OPAK ÁSVÁNYOK VIZSGÁLATA
Opak ásványok mikroszkópos vizsgálata (Sztrókay Kálmán Imre)	211
Bevezetés	211
Érccsiszolat-készítés	212
A kész csiszolat tárgylemezre-szerelése (montírozása)	218
A felszíni film (Beilby-réteg) kialakulása	218
A felületmegvilágítás módjai	220
"Belső" vagy vertikális megvilágítás	220
Külső (ún. sötétmezős) felületmegvilágítás	224
Megvilágító fényforrások	227
Reflexióképesség. Bireflexió	230
Abszorbeáló közegben haladó fénysugár sajátságairól	230
A reflexióképesség közönséges állapotú fény alkalmazásakor	238
Anizotróp kristályfelület reflexiós sajátságai	242
Az anizotróp színhatás	248
Az anizotrópia észlelése	250
Példák az anizotrópia megnyilvánulásaira	251
Gyakorlati útmutatás a szín és reflex helyes megítéléséhez	251
Olajimmerzió alkalmazása	253
A fényvisszaverő-képesség mérése (Balyi K.)	258
Mérések a Berek-féle rés-mikrofotométerrel
Az opak ércfelület egyéb sajátságai (Sztrókay K. I.)	275
Belső reflex	275
Az opak felszínen jelentkező keménység és hasadás	276
Opak ásványok felületelemző vizsgálata	279
Bevezetés	279
Az egyszerű felületétetés	281
A meghatározó (diagnosztizáló) étetés	281
Szövedék- és szemcseszerkezet-étetés (struktúraétetés)	283
Lenyomatos eljárások (Grasselly Gy.)	285
Kontakt lenyomatos eljárás	285
Elektrográfiai lenyomatos eljárás	296
Irodalom
ÁSVÁNYOK RÖNTGENELEMZÉSE (Nemecz Ernő)
Bevezetés
A röntgensugár tulajdonságai	321
Röntgensugár előállítása	321
A karakterisztikus sugárzás természete	323
A röntgensugarak abszorpciója. Fluoreszcencia. Szűrők használata	325
A röntgendiffrakció geometriája	329
Alapegyenletek	329
Elhajlás pontsoron	330
Elhajlás síkhálón	341
Elhajlás térrácson	358
Porfelvételi eljárások	368
Elhajlási irányok rögzítése filmen	368
Debye-Scherrer-eljárás	368
Fókuszáló felvételi eljárások	380
Elhajlási irányok észlelése számlálócsövekkel	383
A diffraktométeres felvételi eljárás elve	383
A diffraktométer felépítése és működése	383
A goniométer és sugárforrás geometriájának befolyása az elhajlási maximumok alakjára	386
A preparátumtényezők szerepe a felvétel készítésében	396
A detektáló műszer	402
Impulzusszámláló berendezések	410
Diffraktométeres felvétel készítésének menete	415
Porfelvételi diagramok értékelése	417
Elhajlási irányok mérése	417
Porfelvételi filmek kimérése	417
Diffraktogramok kimérése	424
A reflexió intenzitása	426
Intenzitás mérése filmes módszerek esetén	426
Intenzitásmérés diffraktométerrel	430
A reflexiókhoz tartozó indexek megállapítása	436
Indexelés nomogram segítségével	437
Indexelés analitikai úton	441
Indexelés a reciprok rács felhasználásával	449
Indexelés rombos rendszerben	450
Diagramok kiértékelése	457
A minőségi határozás menete	459
Elegykristályok röntgenképe	470
Ásványkeverékek mennyiségi analízise	473
A mennyiségi elemzés kivitele	476
Irodalom
Név- és tárgymutató	487

Témakörök

Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem